產品詳情
簡單介紹：
耳機開關蓋壽命試驗機是一種專門用於模擬耳機充電盒、保護套或其他帶蓋結構耳機在日常使用中反複開合場景的可靠性測試設備。其主要目的是通過加速老化測試，驗證開關蓋的機械壽命、結構耐久性及功能穩定性，幫助廠商優化產品設計、提升質量，避免因長期使用導致的蓋子鬆動、斷裂、閉合不嚴等問題。
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