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  • 产品名称：双工位耳机盒翻盖寿命试验机

  • 产品型号：DL3639
  • 产品厂商：东莞东菱
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简单介绍：
耳机开关盖寿命试验机是专门用于模拟耳机充电仓开合、翻盖等动作，测试其机械结构耐久性、开合顺畅度及寿命的自动化检测设备，核心目标是验证耳机充电仓在长期频繁使用下的可靠性，避免因结构疲劳导致的开合失效、卡滞等问题，广泛应用于TWS耳机、头戴式耳机、充电仓等3C产品的研发验证与量产质检环节。
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