产品详情
简单介绍：
耳机开关盖寿命试验机是一种专门用于模拟耳机充电盒、保护套或其他带盖结构耳机在日常使用中反复开合场景的可靠性测试设备。其主要目的是通过加速老化测试，验证开关盖的机械寿命、结构耐久性及功能稳定性，帮助厂商优化产品设计、提升质量，避免因长期使用导致的盖子松动、断裂、闭合不严等问题。
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